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　　射頻測試工藝通常是手機等無線通訊類設(shè)備產(chǎn)線中最為復(fù)雜、影響大的流程，通常也是產(chǎn)線的瓶頸。射頻測試站通常由測試儀表、屏蔽室、測試軟件等幾部分構(gòu)成，通常又可分為校準(zhǔn)測試、綜合測試、天線測試等等幾類。

　　由于產(chǎn)能的要求，通常射頻測試工藝由多個相同的測試站并行運行。某個或某些測試工位的通過率偏低;產(chǎn)出降低就會導(dǎo)致產(chǎn)線瓶頸、生產(chǎn)成本劇增，而究其原因，大致可分為： 產(chǎn)品設(shè)計或物料原因、測試的問題(誤測問題)、射頻干擾等環(huán)境因素、測試的不確定問題。

　　電磁干擾/EMI是整個電子領(lǐng)域目前必須面臨和克服的一個問題，一般在無線通訊產(chǎn)品比如：手機、無線網(wǎng)卡、無線路由器、無線耳機、藍牙耳機、wi-fi、wimax、數(shù)據(jù)卡、對講機、RFID等等無線通訊類設(shè)備和無線通訊類模塊等在進行板測、終測過程中，都是通過使用射頻測試屏蔽箱/RF Shield Box來改善測試環(huán)境的。